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          半導體/電子組件

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          瞄準功率半導體動態可靠度驗證商機 蔚華攜手NI SET產品與九峰山實驗室提供在地芯片驗證服務

          新竹2026年1月27日 /美通社/ -- 半導體設備專業品牌蔚華科技(TWSE: 3055)瞄準中國市場的功率半導體芯片在車規驗證的需求,攜手經銷合作伙伴艾默生旗下的NI與關鍵客戶九峰山實驗室,為...

          2026-01-27 14:00 2811

          看準 HBM 內存應用需求 蔚華激光斷層掃描技術再突破 非破壞檢測助客戶掌握TSV質量 取得正式訂單

          新竹2025年12月8日 /美通社/ -- 半導體設備專業品牌蔚華科技(TWSE: 3055)傳捷報,以業界首創專利“蔚華激光斷層掃描(SpiroxLTS? )”為核心設計的SP8000S非破壞性TS...

          2025-12-08 15:00 8746

          業界首創:蔚華激光斷層掃描技術讓TGV激光改質孔質量無所遁形助攻TGV量產時程

          新竹 2025年6月17日 /美通社/ -- 半導體封裝測試解決方案專業品牌蔚華科技(TWSE: 3055)推出業界首創「蔚華激光斷層掃描(SpiroxLTS)」技術,結合多項專利非線性光學組合技術...

          2025-06-17 13:30 16872

          蔚華科與恩艾(艾默生/NI)擴大結盟合作 共建亞太區首座功率半導體動態可靠度驗證實驗室

          新竹2025年1月14日 /美通社/ -- 半導體封裝測試解決方案專業品牌蔚華科技(TWSE: 3055)與經銷合作伙伴恩艾(艾默生 /NI)宣布將共同建置亞太區首座功率半導體動態可靠度驗證實驗室,瞄...

          2025-01-14 14:00 17081

          業界首創----非破壞性SiC缺陷檢測系統可省巨額成本并提高產出,蔚華科技攜南方科技搶攻第三代半導體商機

          新竹2023年11月28日 /美通社/ -- 半導體測試解決方案專業品牌蔚華科技(TWSE: 3055)攜手旗下數字光學品牌南方科技,共同推出業界首創的JadeSiC-NK非破壞性缺陷檢測系統,采用...

          2023-11-28 17:00 5796